铜损(copper loss)是电流流过变压器绕组或其他电子设备导线时,因导线电阻而消耗并转化为热的功率。这个名称源自常见的铜绕组,但导线即使采用铝等其他金属,其电阻所造成的同类损耗仍称为铜损。铜损属于设备运行时的能量损耗,也称为可变损耗。
在变压器中,铜损发生于原绕组和副绕组。它与铁损共同构成变压器的主要损耗:铜损来自绕组电阻,铁损则包括变化磁通在铁芯中形成的涡流损耗,以及铁芯反复磁化产生的磁滞损耗。两者的形成位置和作用机制不同。
电流通过具有电阻的绕组时,一部分电能以热的形式消耗。铜损与流过绕组的电流平方成正比,因此负载电流改变时,损耗也会随之变化,这也是它被称为可变损耗的原因。在恒定电流条件下,测得的铜损保持不变。
变压器的负载损耗与铜损有关,但两者并不完全相同。未加载的变压器仍可能存在铜损,因此不能把所有铜损简单等同于负载损耗。除负载大小外,开关频率、线圈层数、高次谐波以及绕组的分布参数也会影响实际损耗。开关频率与分布参数共同作用时,绕组可呈现不同的感性或容性特征;线圈层数增加也会使损耗上升。趋肤效应则会带来额外的导体损耗。
铜损的基本构成要素包括绕组或导线的电阻,以及流过其中的电流。绕组材料决定导电路径,但“铜损”并不限于铜材;采用其他金属导线时,电阻产生的热损耗仍归入这一类别。变压器原、副绕组均会产生铜损,实际数值还受到负载大小与功率因数等运行条件影响。
在含开关动作或谐波成分的设备中,电流并非只有单一成分。开关频率、高次谐波、线圈层数和分布参数会共同影响绕组中的损耗表现,因此实际铜损不只取决于导线材料,也与绕组结构和电流状态有关。
变压器铜损可通过短路试验测量。试验时使绕组电流达到额定值,此时输入功率基本由绕组电阻消耗,可据此确定相应的铜损。铜损也可使用铜损表计量;这类仪表通过并联线圈结构配合负载电流,使转盘转速与损耗量形成对应关系。
铜损概念主要用于分析变压器绕组以及其他电子设备导线的能量损耗和发热情况。在变压器运行分析中,它可与涡流损耗、磁滞损耗分别考察,用于区分绕组与铁芯产生的损耗。对采用多层线圈、开关工作方式或含高次谐波电流的设备,铜损分析还涉及线圈层数、频率特性、分布参数及趋肤效应等因素。